自相關(guān)儀的操作詳細(xì)步驟

更新時(shí)間：2021-08-27

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單次飛秒自相關(guān)儀

● 波長(zhǎng)范圍覆蓋400nm-2200nm

● 測(cè)量脈寬5fs-15ps

● 包含LabView兼容的驅(qū)動(dòng)程序

● 1uJ靈敏度

● CCD 2D探測(cè)，j確采集數(shù)據(jù)誤差小

1. 將待測(cè)光通過(guò)反射鏡M1導(dǎo)入到SSA中，調(diào)節(jié)SSA在臺(tái)面的角度，使待測(cè)光方向垂直于SSA表面方向，用壓塊固定SSA；
2. 調(diào)節(jié)反射鏡M1，使待測(cè)光依次通過(guò)波片λ/2、分束片BS1、延時(shí)器DL鏡片的中心，同時(shí)待測(cè)光會(huì)經(jīng)過(guò)M3的中心；經(jīng)過(guò)BS1分束的兩束光暫命名為透射光a和反射光b；
3. 調(diào)節(jié)反射鏡M2的角度，使經(jīng)過(guò)BS1反射的反射光b入射到反射鏡M4中心；此時(shí)反射光b會(huì)通過(guò)分束片BS2，若反射光b沒有經(jīng)過(guò)BS2，則移動(dòng)BS2的位置；
4. 調(diào)節(jié)反射鏡M3和M4的角度，使透射光a和反射光b均落在反射鏡M5上，且上下分布，左右一致
5. 調(diào)節(jié)反射鏡M5的角度，使透射光a和反射光b以非共線形式入射到非線性晶體BBO上；兩光斑會(huì)有一部分重疊
6. 驗(yàn)證，擋住反射光b，調(diào)節(jié)延時(shí)器DL的位置，觀察透射光a在晶體上的位置和方向是否變動(dòng)；若變動(dòng)，說(shuō)明延時(shí)器DL需要重新調(diào)節(jié)，若不變，則繼續(xù)下一步；
7. 用紙片放在BBO后，調(diào)節(jié)出透射光a和反射光b的和頻信號(hào)

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